●KEYSIGHT 【無料ウェブセミナー】設計の“なぜ”が見える測定インサイトの力｜進化した基本測定器のご紹介

電子機器設計に対する要求は複雑化が進んでいます。入出力パラメータの増加、厳しい電力効率の要求、そして高まる規格準拠の必要性。これらに対処するには、基本的な開発研究ベンチでも「より多くの電力」「より多くの測定チャネル」「より高い精度」が求められます。本ウェブセミナーでは、そのようなご要望に対応するべく進化したキーサイトの基本測定器Smart Bench Essentials Plus のご紹介と、この新製品がいかに皆様の試験レベルを高め、信頼できる測定インサイトを提供するのかをお届けします。

■開催概要

• 日時： 2025年7月24日（木）13:30 – 14:30　
• 会場： オンライン
• 参加費：無料（事前登録制）

■内容

• 新製品のご紹介：電源、波形発生器、デジタルマルチメータ、オシロスコープの各機器の特長を詳しく解説
• 専門家による技術解説：開発に携わった弊社John Kenny氏とJim Benson氏が、プロレベルの測定技術をわかりやすくご紹介
• 新旧比較：現行モデルでは見逃していたかもしれない信号や重要な課題を、新製品ならどのように捕捉できるかを実演
• アプリケーションデモ：バッテリーモニタリングシステムのテスト、ダブルパルス信号の生成、突入電流の測定など、実践的なデモを実施