●KEYSIGHT 【6/22～26はキーサイトのデモウィーク】半導体パラメトリック・アナライザ　オンラインデモ週間のご案内

材料、半導体、デバイス特性評価等で頻繁に用いられる半導体パラメータアナライザですが、デバイスの高速化や微細化に伴い、従来のIV評価だけでなくCV評価、高速評価、信頼性評価等、様々な評価が求められるケースが増えてきました。また設備更新に当たって技術面、オペレーション面で種々お悩みを抱えられる方も少なくありません。
本イベントでは、1社様限定のオンライン会議を通じて半導体測定のためのソリューション紹介と製品デモをご覧頂きます。設備更新の検討材料としてご活用ください。

日程 ： 2026年6月22日（月）～6月26日（金）
■時間帯 ： 1日につき、3スロット （全15スロット）
　　　　　 10:00-12:00、13:00-15:00、15:30-17:30
■会場 ： リモート会議にて開催
　　　　　 1社様限定の会議形式で行います
■参加費 ： 無料（事前登録制）